透射電子顯微鏡

儀器名稱(chēng)：透射電子顯微鏡         儀器型號：JEM-F200

生產(chǎn)廠(chǎng)家：日本電子/英國牛津儀器公司

檢測范圍：材料形貌和結構的分析

主要技術(shù)指標：

1.分辨率：≤0.10nm@200 KV，0.14 nm @80 KV；

2.加速電壓：80-200 KV；

3.放大倍率：20-2,000,000X。

應用范圍：廣泛應用于材料科學(xué)，醫學(xué)，生物學(xué)等領(lǐng)域的各種功能材料、納米材料、植物、標本等的形貌和結構分析?？蛇M(jìn)行樣品的TEM形貌分析、高分辯分析（晶格條紋)，樣品的選區衍射分析，STEM分析（明場(chǎng)、暗場(chǎng)及元素的Mapping）。

制樣要求：

1.樣品干燥，無(wú)磁性，無(wú)腐蝕性，無(wú)揮發(fā)性液（氣）體；

2.粉末狀（≤200目）。

操作人員：戈樺、丁秀萍

聯(lián)系方式：0971-6363102；E-mail：dingxp@isl.ac.cn

安放地點(diǎn)：中國科學(xué)院青海鹽湖研究所  綜合樓105房間