材料、礦物物相結構及形貌分析平臺
臺式X射線(xiàn)衍射儀
儀器名稱(chēng):臺式X射線(xiàn)衍射儀(XRD) 儀器型號:AERIS
生產(chǎn)廠(chǎng)家:荷蘭 Malvern Panalytical
引進(jìn)時(shí)間:2020年6月
檢測范圍:廣角衍射,物相定性半定量,結構精修、晶粒尺寸計算
主要技術(shù)指標:
1.最大輸出功率:600W;
2.測試精度:q-q方式,2q轉動(dòng)范圍:-4°<2q<145°,角度重現性±0.0001°,測角儀半徑為145mm。
應用范圍:
1.物相分析:可以對物質(zhì)的組成進(jìn)行定性分析;
2.定性、定量分析:通過(guò)精修可對物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析。
制樣要求:
1.固體粉末:①常規樣品需均勻干燥,質(zhì)量為0.5~1.0 g,粒度應小于40 mm(350目左右);
②微量樣品質(zhì)量不小于20 mg;
③易失水或易潮解樣品,需研磨后立即測試。
2.片狀樣品或固體塊狀樣品:需加工出平整的平面,樣品尺寸應小于φ25mm′2mm(高);
3.如需儀器操作員處理大塊樣品,應收樣品處理的費用;
4.樣品測試若有特殊要求,送樣前需提前溝通。
操作人員:韓麗
聯(lián)系方式:0971-6363003;E-mail:hanli@isl.ac.cn
安放地點(diǎn):中國科學(xué)院青海鹽湖研究所 綜合樓108房間